Silvia Haindl

プロフィール
2002–2005 ウィーン工科大学, オーストリア, 博士(工学)
2006–2013 研究員, ドレスデン固体物質研究所, ドイツ
2013–2017 主任研究員, ツービンゲン大学, ドイツ
2016 客員准教授, 東京工業大学
9/2016-12/2016 特任准教授，東京工業大学科学技術創成研究院
2018- 特任准教授，東京工業大学科学技術創成研究院

専門分野
物性物理学、超伝導

フロンティア材料研究所（IIR, Tokyo Tech）

http://www.msl.titech.ac.jp/~hosono/
haindl.s.aa@m.titech.ac.jp

グループ名：材料・デバイス研究国際ハブグループ

研究ハイライト

  • パルスレーザー堆積法による超伝導を示すSmO1–xFxFeAs薄膜の実現（2016.06）
  • 鉄系超伝導体薄膜に関する総説（2014.04）

ニュース

  • 2016年6月
    超伝導を示すSmO1–xFxFeAs薄膜に関する論文がScientific Reportsに掲載されました。
  • 2014年4月
    鉄系超伝導体薄膜に関する総説が Rep. Prog. Phys.に掲載されました。

上記2件は、東京工業大学との国際共同研究の成果です。

主な受賞歴

  • Best Poster Prize at PASREG conference, 東京（平成17年）

主な論文

  • S. Haindl, H. Kinjo, K. Hanzawa, H. Hiramatsu, and H. Hosono “Pulsed laser deposition of SmFeAsO 1−δ on MgO(100) substrates” Appl. Surf. Sci. 437, 418-428(2018).
  • S. Haindl, K. Hanzawa, H. Sato, H. Hiramatsu, and H. Hosono “In-situ growth of superconducting SmO1–xFxFeAs thin films by pulsed laser deposition” Sci. Rep., vol. 6, pp. 35797-1 – 35797-6 (2016).
  • S. Haindl, S. Molatta, H. Hiramatsu, and H. Hosono “Recent progress in pulsed laser deposition of iron based superconductors”J. Phys. D: Appl. Phys., vol. 49, pp. 345301-1 – 345301-7 (2016).
  • S. Haindl, M. Kidszun, S. Oswald, C. Hess, B. Büchner, S. Kölling, L. Wilde, T. Thersleff, V. V. Yurchenko, M. Jourdan, H. Hiramatsu, and H. Hosono “Thin film growth of Fe-based superconductors: from fundamental properties to functional devices. A comparative review” Rep. Prog. Phys., vol. 77, pp. 046502-1 – 046502-32 (2014). Invited review
  • M. Kidszun, S. Haindl, T. Thersleff, J. Hänisch, A. Kauffmann, K. Iida, J. Freudenberger, L. Schultz, and B. Holzapfel “Critical current scaling and anisotropy of oxypnictide superconductors” Phys. Rev. Lett., vol. 106, p. 137001 (2011).
  • S. Haindl, M. Kidszun, A. Kauffmann, K. Nenkov, N. Kozlova, J. Freudenberger, T. Thersleff, J. Hänisch, J. Werner, E. Reich, L. Schultz, B. Holzapfel “High upper critical fields and evidence of weak link behavior in LaFeAsO1–xFx thin films” Phys. Rev. Lett., vol. 104, p. 077001 (2010).